Parameterextraktion bei Halbleiterbauelementen Simulation mit PSPICE
Ergänzend zu Vorlesung, zu Rechenübungen und insbesondere zum Laborpraktikum im Lehrfach Elektronik werden Analyseverfahren zur Extraktion von SPICE-Modellparametern ausgewählter Halbleiterbauelemente vorgestellt. Für Bauelemente aus der DEMO-Version des
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Parameterextraktion bei Halbleiterbauelementen Simulation mit PSPICE 2. Auflage
Parameterextraktion bei Halbleiterbauelementen
Peter Baumann
Parameterextraktion bei Halbleiterbauelementen Simulation mit PSPICE 2., erweiterte Auflage
Peter Baumann Hochschule Bremen Bremen, Deutschland
ISBN 978-3-658-26573-1 ISBN 978-3-658-26574-8 (eBook) https://doi.org/10.1007/978-3-658-26574-8 Die Deutsche Nationalbibliothek verzeichnet diese Publikation in der Deutschen Nationalbibliografie; detaillierte bibliografische Daten sind im Internet über http://dnb.d-nb.de abrufbar. Springer Vieweg © Springer Fachmedien Wiesbaden GmbH, ein Teil von Springer Nature 2012, 2019 Das Werk einschließlich aller seiner Teile ist urheberrechtlich geschützt. Jede Verwertung, die nicht ausdrücklich vom Urheberrechtsgesetz zugelassen ist, bedarf der vorherigen Zustimmung des Verlags. Das gilt insbesondere für Vervielfältigungen, Bearbeitungen, Übersetzungen, Mikroverfilmungen und die Einspeicherung und Verarbeitung in elektronischen Systemen. Die Wiedergabe von allgemein beschreibenden Bezeichnungen, Marken, Unternehmensnamen etc. in diesem Werk bedeutet nicht, dass diese frei durch jedermann benutzt werden dürfen. Die Berechtigung zur Benutzung unterliegt, auch ohne gesonderten Hinweis hierzu, den Regeln des Markenrechts. Die Rechte des jeweiligen Zeicheninhabers sind zu beachten. Der Verlag, die Autoren und die Herausgeber gehen davon aus, dass die Angaben und Informationen in diesem Werk zum Zeitpunkt der Veröffentlichung vollständig und korrekt sind. Weder der Verlag, noch die Autoren oder die Herausgeber übernehmen, ausdrücklich oder implizit, Gewähr für den Inhalt des Werkes, etwaige Fehler oder Äußerungen. Der Verlag bleibt im Hinblick auf geografische Zuordnungen und Gebietsbezeichnungen in veröffentlichten Karten und Institutionsadressen neutral. Springer Vieweg ist ein Imprint der eingetragenen Gesellschaft Springer Fachmedien Wiesbaden GmbH und ist ein Teil von Springer Nature. Die Anschrift der Gesellschaft ist: Abraham-Lincoln-Str. 46, 65189 Wiesbaden, Germany
Vorwort
Das weltweit verbreitete Programm OrCAD-PSPICE zur Simulation elektrischer Schaltungen enthält in den DEMO-Versionen einige kommerzielle Halbleiterbauelemente mit einem für viele Anwendungen ausreichenden Modellinhalt. Das Anliegen dieses Buches besteht darin, Analyseverfahren vorzustellen, mit denen die eingegebenen Daten der statischen und dynamischen SPICE-Modellparameter verschiedener Dioden, Transistoren, Operationsverstärker und Optokoppler aus der Bauelemente-Bibliothek des Halbleiterherstellers ermittelt werden können. Für die vorgegebenen, vereinfachten Modelle von Dioden, Bipolar- und Feldeffekttransistoren stellen die hier angewandten Methoden der Parameterextraktion mittels SPICE-Analysen eine Rückgewinnung der zuvor eingegebenen Modellparameter dar. Die Parameterermittlung ist demzufolge überprüfbar. Damit werden Möglichkeiten aufgezeigt, wie die Modellparameter vergleichbarer Bauelemente über eigene Messungen oder aus Datenblattangaben gewonne
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